Obtenez des tests efficaces de fuite, d’étanchéité et de rupture de vos emballages pour une intégrité totale de l’ emballage
Les détecteurs de fuite d’emballage permettent d'identifier les problèmes d'intégrité de l'étanchéité. C’est un élément essentiel du contrôle de qualité en Conditionnement sous atmosphère protectrice (MAP), car la compromission de l'atmosphère protectrice entraîne une réduction de la durée de conservation des produits MAP.
La gamme d'équipements de test de fuite d’emballage d'AMETEK MOCON permet de :
Nos détecteurs de fuites augmentent la vitesse de production et minimisent le risque de problèmes d'intégrité des emballages non détectés, qui entraînent des retours non désirés et des relations clients détériorées.
Nous fournissons des équipements de test de fuite d’emballage en ligne et hors ligne. Sélectionnez un produit dans la liste ci-dessous pour en savoir plus ou demandez-nous un audit de votre procédé MAP.
Générez moins de retours de produits non désirés, en utilisant le Dansensor LeakMatic ll pour la détection des fuites en ligne. Pour en savoir plus sur ce testeur de fuite d'emballage, cliquez ici.
Obtenez une détection rapide et précise des fuites de produits MAP dans le secteur alimentaire grâce à nos produits Dansensor LeakPointer. Pour en savoir plus sur LeakPointer 3 et 3+, cliquez ici.
Le Dansensor Lippke VC 1380 détecte de minuscules fuites et trous dans les emballages des produits alimentaires et pharmaceutiques. Pour en savoir plus sur les avantages de ce système de détection de fuite, cliquez ici.
Le Dansensor Lippke 5000 est utilisé pour tester la résistance des joints et l'intégrité des emballages. Pour en savoir plus, cliquez ici.
Le testeur d'intégrité d’emballage MultiCheck est un système révolutionnaire qui réduit les coûts de test en utilisant un emballage pour 5 tests. Pour en savoir plus, cliquez ici.
L’audit MAP peut optimiser votre vitesse d'emballage, votre consommation de gaz et réduire les déchets de matériaux d'emballage. Pour en savoir plus sur notre audit MAP, cliquez ici.